PV01000 - SEMI PV10 - Test Method for Instrumental Neutron Activation Analysis (INAA) of Silicon Revision:SEMI PV10-0716 - Current エッジ近傍の幾何学的特性情報は製造者や消費者がウェーハの寸法特性が与えられた幾何学的要求を満たしているかどうか決定することを手助けできる。

エッジ近傍の幾何学的特性情報は製造者や消費者がウェーハの寸法特性が与えられた幾何学的要求を満たしているかどうか決定することを手助けできる。

and single and multicrystalline wafers and slugs

• Premium wafers (refer to SEMI M24)

4-0997 (first published - replaces SEMI E59)

PV01000 - SEMI PV10 - Test Method for Instrumental Neutron Activation Analysis (INAA) of Silicon Revision:SEMI PV10-0716 - Current エッジ近傍の幾何学的特性情報は製造者や消費者がウェーハの寸法特性が与えられた幾何学的要求を満たしているかどうか決定することを手助けできる。This Standard was technically approved by the Photovoltaic Materials Global Technical Committee. This edition was approved for publication by the global Audits and Reviews Subcommittee on May 11, 2016. Available at www. semiviews. org and www. semi. org in July 2016; originally published October 2010. Neutron Activation Analysis (NAA) is a highly sensitive method for multi element quantitative and qualitative analysis of various materials. In